欢迎来到遥遥领先晶振平台

热门关键词 :

Product Center
微信会员
高品质 合作伙伴
当前位置首页 » 公司新闻 » Renesas瑞萨晶振利用实时基准测量工具进行更快的时间设计和精确的性能测试

Renesas瑞萨晶振利用实时基准测量工具进行更快的时间设计和精确的性能测试

返回列表 来源:*** 浏览:- 发布日期:2025-07-18 15:51:17【
分享到:

瑞萨Renesas晶振利用实时基准测量工具进行更快的时间设计和精确的性能测试
加速时间设计,从参数匹配到原型验证的效率跃升
1.设计初期,参数快速匹配,传统晶振选型需通过手册推测性能,而瑞萨实时基准测量工具可直接接入设计方案,5分钟内完成目标晶振(如RA系列配套晶振,车规级TCXO晶振)与系统需求的匹配验证,例如,在车载晶振雷达设计中,工具可实时模拟125℃高温下晶振的频率漂移,快速验证是否满足ADAS系统对±5ppm稳定度的要求,避免后期因参数不匹配导致的返工
2.原型开发,实时反馈与动态调整,工具支持在线调试模式,工程师可通过图形化界面实时修改晶振外围电路参数(如负载电容,滤波电阻),工具同步输出频率响应曲线,使调试周期从传统的2-3天缩短至4小时内,例如,针对工业PLC的时钟设计,通过工具实时观测晶振在1.8V有源晶振低电压下的启动时间(最快≤5ms)和稳定时间,快速优化电源管理模块,确保极端电压波动下的可靠启动

Renesas8
精准性能测试,覆盖全场景的可靠性验证
1.极端环境下的性能标定
工具内置环境模拟模块,可联动高低温箱,振动台等设备,在-55℃~+150℃温度循环,2000G冲击等严苛条件下,持续记录晶振的频率偏差,功耗变化(精度±1μA),确保测试数据与实际应用场景高度一致,例如,验证车规级晶振是否符合AEC-Q200标准时,工具可自动生成1000小时高温老化测试的实时数据报告,精准捕捉每小时的频率漂移量(≤0.1ppm/1000h)
2.系统级兼容性测试
工具支持多晶振同步测量(最多8通道并行),可模拟多节点时钟同步场景(如5G基站的分布式时钟系统),实时分析晶振间的相位差(≤1ns)和同步误差,确保系统级时序一致性,例如,在数据中心服务器设计中,通过工具验证瑞萨晶振与CPU,内存的时钟同步精度,避免因相位偏差导致的数据传输误码

Renesas7

日产进口晶振 :
KDS晶振
EPSON晶振
SEIKO晶振
MuRata晶振
CITIZEN晶振
Fujicom晶振
Naka晶振
NDK晶振
Kyocera晶振
River晶振
SMI晶振
KDK晶振
NKD晶振
ISO晶振
TOKYO晶振
MITA晶振
TamaDevice晶振
SQC晶振
台产晶振 :
TXC晶振
HOSONIC晶振
HELE晶振
TAITIEN晶振
SIWARD晶振
AKER晶振
PERICOM晶振
DIODES晶振
ITTI晶振
NKG晶振
MERCURY晶振
TST晶振
NSK晶振
欧美进口晶振 :
GEYER晶振
JAUCH晶振
Golledge晶振
Abracon晶振
ECS晶振
Renesas晶振
Skyworks晶振
Transko晶振
Suntsu晶振
MtronPTI晶振
QuartzCom晶振
QANTEK晶振
FOX晶振
RALTRON晶振
MicroCrystal晶振
SITIME晶振
Connor-Winfield晶振
Vectron晶振
Greenray晶振
IQD晶振
ILSI晶振
Crystek晶振
Quarztechnik晶振
Cardinal晶振
Frequency晶振
KVG晶振
Wi2Wi晶振
AEL晶振
MMD晶振
MTI-Milliren晶振
RUBYQUARTZ晶振
Oscilent晶振
IDT晶振
AXTAL晶振
Pletronics晶振
Statek晶振
Rakon晶振
Bliley晶振
Standard晶振
ecliptek晶振
SHINSUNG晶振
Microchip晶振
QVS晶振
Bomar晶振
General晶振
Q-Tech晶振
Anderson晶振
Wintron晶振
Fortiming晶振
Wenzel晶振
PETERMANN-TECHNIK晶振
FCD-Tech晶振
HEC晶振
Macrobizes晶振
Sunny晶振
Klove晶振
RAMI晶振
差分晶振 :
LVDS晶振
LVPECL晶振
HCSL晶振
CML晶振
PECL晶振
TCXO晶振
VCXO晶振
VCTCXO晶振
OCXO晶振
SPXO晶振
MEMS晶振
车规晶振 :
32.768K晶振 :
1x5晶振
1x4晶振
2x6晶振
3x8晶振
1210晶振
1610晶振
2012晶振
3215晶振
4115晶振
4819晶振
8038晶振
7015晶振